射頻芯片測試座，即RF IC Test Socket，是用于連接射頻芯片和測試機臺的接口裝置。通過射頻芯片測試座，射頻信號能夠被準確地傳輸?shù)綔y試儀器，從而進行芯片電氣性能的篩選。

射頻芯片廣泛應用于移動智能終端設備、WiFi、汽車電子和智慧醫(yī)療等領域，其封裝形式大部分為QFN（Quad Flat No-lead）。市場對射頻芯片測試座的需求越來越多，也越來越高。

由于射頻信號通常頻率較高、波長較短，傳輸過程中易受到衰減和干擾，射頻芯片測試座需要高度的精密性，和林微納研發(fā)團隊在設計時會特別關注這些因素。

此次將給大家介紹Z系列射頻芯片測試座。

和林微納Z系列射頻芯片測試座，通過精密的機械結構設計，選擇高品質(zhì)的材料，能最大限度地減少信號損失和干擾，從而保證測試結果的準確性。該系列測試座廣泛應用于5G、PA、Switch、WIFI、LNA、Bluetooth、Audio Chip等領域。

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