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測試導(dǎo)電膠

與傳統(tǒng)金屬探針（如彈簧探針）不同，芯片測試導(dǎo)電膠通過分散在聚合物基體中的導(dǎo)電填料形成低電阻導(dǎo)電路徑，適用于高頻高速、高密度、不損傷錫球等測試場景。
產(chǎn)品特點

• 間距：≥350um

• 短信號路徑

• 低接觸電阻：<100mΩ

• 高針數(shù)量：≤9,000針

• 卓越的接觸穩(wěn)定性

• 錫球無損傷

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