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存儲測試座

存儲測試座是用于存儲芯片（如DRAM、NAND Flash等）測試的專用接口組件，其核心特點(diǎn)是通過導(dǎo)電膠（Conductive Elastomer） 替代傳統(tǒng)金屬探針或插座端子，實(shí)現(xiàn)與芯片引腳的電氣連接。
產(chǎn)品特點(diǎn)

• 間距：≥0.35mm

• 短信號路徑

• 低接觸電阻：<100mΩ

• 高針數(shù)量：≤9,000針

• 卓越的接觸穩(wěn)定性

• 錫球無損傷

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