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射頻高速測試座

射頻高速測試插座是專為5G通信芯片、毫米波雷達芯片、高速接口芯片（QFN/QFN等扁平引腳封裝）設計的測試接口組件，采用了z系列端子，核心功能是指定頻段內(nèi)實現(xiàn)低損耗、低反射的信號傳輸，同時保證機械連接的穩(wěn)定性與電氣性能的一致性。
產(chǎn)品特點

? 間距：≥0.3mm

? 電流：≥3-5A

? 低阻值及自感，良好耐磨性及自清潔

? 帶寬：≥15-40GHz@-1dB

? 適用QFN/DFN & LGA等封裝

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