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MEMS 探針卡

MEMS探針卡主要應(yīng)用于先進(jìn)制程晶圓的測試，具有小間距、高同測數(shù)、高針數(shù)等顯著優(yōu)勢。
產(chǎn)品特點

• 針尖 Over Drive: 50um-150um

• 間距: ≥ 45um

• 高針數(shù): 40k+

• 滿足Kelvin 測試

• 測試誤判率: ≤1%

• 三溫測試: -55°C~175°C

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