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Clamshell

Clamshell結(jié)構(gòu)是專門為半導(dǎo)體芯片可靠性測試提供的一款老化針可定制的老化座結(jié)構(gòu)，具有可定制、高可靠、低成本的特點。
產(chǎn)品特點

? 芯片尺寸：10 ~ 70mm

? 芯片點數(shù)：6000 pin max

? 間距：0.30mm ~ 1.27mm

? 探針力量：10gf ~ 25gf per pin

? 溫度范圍：-55oC ~ +150oC

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